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Cila 2.0 裸光纖拋光和檢測系統 （光纖研磨拋光） Bare Fiber Polishing and Inspection, Cila 2.0裸光纖拋光和檢測系統可以有效地獲取、對齊、定位和拋光大量形狀奇特的裸光纖。內置檢測系統，提供高分辨率成像和參考，使其在對公差要求高的應用方面有突出表現，如在拋光角度、徑向對準(PM光纖)和精確光纖突出長度等方面。

光學波導拋光和檢測系統（光纖研磨拋光） Optical Waveguide Polishing and Inspection Cila 2.0光學波導，光纖陣列V型槽拋光和檢測系統可以拋光和檢測多種類型的光波導、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統配備了一個剖面圖，高分辨率攝像機，允許用戶監控拋光過程，進行余量去除和角度驗證。具有精確定位能力的明視場

ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView XD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發環境和連接器維護目的。

ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器 光纖包層直徑125-720um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView LD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView LD也非常適合研發環境和連接器維護目的。

ProView™ XD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于光纖支架 光纖包層直徑220-1200um)（光纖研磨拋光/切割剝離器） ProView XD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為220至1200µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產線設計的，在生產線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView XD也非常適合研發環境和光纖切割機維護目的。