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光束/光斑質量分析儀
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀





WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
產品簡介
product
產品分類| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組成要素 | 半導體激光器產品及設備 | 產地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池 |
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
WinCamD UHR / XHR非常適合任何激光束輪廓分析應用。像素尺寸低至3.2μm,適合于光束。UCD系列都具有全局域快門,使其成為脈沖激光束輪廓分析的優秀選擇。 軟件功能齊全,可高度定制,且不收取許可費用,無限制安裝和免費軟件更新。它非常適合以下應用:CW和脈沖激光輪廓分析;激光系統的現場服務;光學組件;儀器對準;光束漂移和記錄;研發; OEM集成;質量控制和可用M2DU平臺進行M2測量。
特點
355-1150 nm(標準),335-1350nm,
1480-1605nm(UHR),190-1150nm(XHR)
S-WCD-UHR :1280 x 1024,6.6 x 5.3 mm, 5.2 µm
S-WCD-XHR :2048 x 1536, 6.5 x 4.9 mm,3.2 µm
USB 2.0接口;
25,000:1電子自動快門,40 µs至1000 ms
1,000:1 SNR(30/60 dB光學/電氣)
M2選項–光束傳播分析,發散,聚焦
應用
CW 激光輪廓
激光器和基于激光器的系統的現場服務
光學組件和儀器對準
使用可用的M2DU平臺進行M2測量
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀






